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3010AEM 解析型穿透式電子顯微鏡實驗室

  │ 材料組織分析儀器 │  材料性質檢測儀器 │ 材料製程加工設備 │ 

名稱

3010AEM 解析型穿透式電子顯微鏡實驗室

分機電話

409707-5252631

位置

B1001

參與教授

沈博彥

協同參與教授

曾百亨 / 張志溥 / 張六文

設備

3010AEM 解析型穿透式電子顯微鏡 JEOL JEM-3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscop (300KV)
附屬配備:
掃描成像控制系統 STEM System
X
光成份分析系統 EDS Analysis (OXFORD INCA x-stream)
影像增強放大器 Image Intensifier TV System (Gatan 622-SC)
電荷耦合元件成像附件 Multiscan CCD Camera (Gatan 894 2K×2K)

研究方向

適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料、生醫材料、高分子材料等。以300KV高能量電子穿透試片,可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。可提供HR高解像分析、EDS微區域化學成份分分析、CBEDMicrodiffraction微束繞射分析、高角度多方位繞射分析及高品質之明、暗視野影像。兼具解析及高解像顯微雙重功能,是微觀世界中研究分析材料不可或缺的利器。

技術人員/學生

林明政技師

圖片

裝飾性圖片

參考連結

http://khvic.nsysu.edu.tw/khvic/JL/53.htm