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場發射型掃瞄式(JEOL 6330TF SEM)電子顯微鏡

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名稱

場發射型掃瞄式(JEOL 6330TF SEM)電子顯微鏡

分機電話

4072

位置

B3024

參與教授

張六文

設備

附屬配備:
1.X
光成份分析系統 EDS Analysis (OXFORD INCA x-stream)
2.
單光型陰極發光光譜儀CL,Cathodoluminescence 加高感度低溫座(Gatan Mono CL PA3 & High sensitivity low temperture stage CF302)
3.
高解析多相式電子背散射繞射系統(EBSD, Electron Backscattering Diffraction Analyzer (HKL CHANNEL 5 EBSD system)

研究方向

技術人員/學生

陳貴香技正

圖片

裝飾性圖片

參考連結