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名稱 |
3010AEM 解析型穿透式電子顯微鏡實驗室 |
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分機電話 |
4097；07-5252631 |
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位置 |
B1001 |
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參與教授 |
沈博彥 |
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協同參與教授 |
曾百亨 / 張志溥 / 張六文 |
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設備 |
3010AEM 解析型穿透式電子顯微鏡 JEOL JEM-3010 Analytical Scanning Transmission Electron Microscop (300KV) |
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研究方向 |
適用於固體奈米材料、半導體電子材料、陶瓷礦物材料、金屬材料、生醫材料、高分子材料等。以300KV高能量電子穿透試片，可觀察物體之形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。可提供HR高解像分析、EDS微區域化學成份分分析、CBED及Microdiffraction微束繞射分析、高角度多方位繞射分析及高品質之明、暗視野影像。兼具解析及高解像顯微雙重功能，是微觀世界中研究分析材料不可或缺的利器。 |
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技術人員/學生 |
林明政技師 |
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圖片 |
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參考連結 |
