國立中山大學材料與光電科學學系

題目：低溫缺陷鈍化技術應用於電子元件之研究

(Study on low-temperature defect passivation technique applied to semiconductor devices)

講員：楊智程博士生(博四)

時間：109年04月29日(週三)14:10-16:00

地點：國研大樓華立廳