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名稱 |
儀器名稱與型號 |
負責教授 |
位置 |
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穿透式電子顯微鏡實驗室（I） |
JEOL 3010 STEM* |
張六文教授 |
MS1001 |
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穿透式電子顯微鏡實驗室（II） |
FEI Tecnai G2 F20 STEM* FEI CM200 TEM* |
張志溥教授 張六文教授 |
MS 1004 |
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穿透式電子顯微鏡實驗室（III） |
JEOL 2100 TEM* |
郭紹偉教授 |
MS 2011 |
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表面分析實驗室 |
JEOL JPS 9030 XPS* JEOL JAMP-9500F AEM* |
陳致光教授 |
MS3025 |
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掃描式電子顯微鏡實驗室（I） |
LEOL JXA-8530F FE-EPMA* JEOL 6330F FE-SEM* Zeiss Supra 55 FE-SEM |
王致傑教授 蔣酉旺教授 張志溥教授 |
MS3024 |
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掃描式電子顯微鏡實驗室（II） |
Zeiss Gemini 450 STEM* |
蔣酉旺教授 |
MS3022 |
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X光繞射實驗室 |
粉末X光繞射儀 高解析X光繞射儀 極圖X光繞射儀 |
周明奇教授 |
MS 6014 |
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尖端晶體材料聯合實驗室** |
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周明奇教授 |
EN 2027-1 |
*科技部基礎核心設施 **科技部尖端晶體設施